杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2026-03-04
偽影可能由探頭未垂直樣品、耦合不良或材料不均勻性引起,需通過(guò)五軸平臺(tái)校正角度、優(yōu)化耦合壓力或采用多角度掃描融合消除。
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