杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2026-02-24
高頻探頭(如200MHz以上)適用于檢測微米級缺陷(如芯片封裝中的空洞),但穿透力較弱;低頻探頭(如50MHz)適合深層結(jié)構(gòu)分析,需根據(jù)材料厚度和缺陷類型權(quán)衡。
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