在光學光刻中，光致抗蝕劑通過光掩模用紫外光曝光。紫外接觸式曝光機使用了較短波長的光（G線435nm，H線405nm，I線365nm）。接觸光刻機屬于這種光學光刻。掩膜版的制作則是通過無掩膜光刻技術(shù)得到。設(shè)計圖案由于基本只用一次，一般使用激光直寫技術(shù)或者電子束制作掩膜版，通過激光束在光刻膠上直接掃描曝光出需要的圖形，在經(jīng)過后續(xù)工藝，得到需要的掩膜版。激光直寫系統(tǒng)包括光源，激光調(diào)制系統(tǒng)，變焦透鏡，工件臺控制系統(tǒng)，計算機控制系統(tǒng)等。濕法蝕刻工藝的原理是使用化學溶液將被刻蝕固體材料轉(zhuǎn)化為液體化合物。廣州微納加工技術(shù)

目前，國內(nèi)光刻膠原材料市場基本被國外廠商壟斷，尤其是樹脂和感光劑高度依賴于進口，國產(chǎn)化率很低，由此增加了國內(nèi)光刻膠生產(chǎn)成本以及供應(yīng)鏈風險。國內(nèi)企業(yè)基于危機意識在上游原材料領(lǐng)域已展開相關(guān)布局。從上市公司在光刻膠原材料的布局情況來看，溶劑方面有百川股份、怡達股份等，單體有華懋科技（投資徐州博康）、聯(lián)瑞新材等，樹脂有彤程新材、圣泉集團、強力新材等，光引發(fā)劑有強力新材等。在這之中，徐州博康作為光刻膠全產(chǎn)業(yè)鏈選手，在國內(nèi)光刻膠這條賽道上，已經(jīng)實現(xiàn)了從單體到樹脂、光酸、配套溶劑到光刻膠產(chǎn)品的全產(chǎn)業(yè)鏈生產(chǎn)能力。浙江光刻多少錢精確控制光刻環(huán)境是確保產(chǎn)品一致性的關(guān)鍵。

剝離工藝（lift-off）是指在有光刻膠圖形的掩膜上鍍膜后，再去除光刻膠獲得圖案化的金屬的工藝。在剝離工藝中，有幾種關(guān)鍵因素影響得到的金屬形貌。1.光刻膠的厚度。光刻膠厚度需大于金屬厚度，一般光刻膠厚度在金屬厚度的三倍以上膠面上的金屬更易成功剝離。2.光刻膠種類。紫外光刻中，正膠光刻膠一般為“正梯形”，負膠光刻膠側(cè)壁形貌一般為“倒梯性”?！暗固菪巍钡墓饪棠z更容易剝離，故在剝離工藝中常使用負膠。3.鍍膜工藝。蒸發(fā)鍍膜相比濺射鍍膜在光刻膠側(cè)壁更少鍍上金屬，因此蒸發(fā)鍍膜更易剝離。

顯影速度：顯影速率主要取決于使用的光刻膠和反轉(zhuǎn)烘烤步驟的時間和溫度。反轉(zhuǎn)烘烤的溫度越高、時間越長，光引發(fā)劑的熱分解率就越高。在常規(guī)顯影液中，顯影速率>1um/min是比較常見的，但并不是每款膠都是這樣的。底切結(jié)構(gòu)的形成：過顯的程度(光刻膠開始顯影到顯影完成的時間)對底切結(jié)構(gòu)的形成有明顯的影響。如圖3所示，在充分顯影后，隨著顯影時間的延長，底切的程度會表現(xiàn)更明顯。對于實際應(yīng)用中，建議30%的過度顯影是個比較合適的節(jié)點：在高深寬比的應(yīng)用中，必須注意，過度的底切結(jié)構(gòu)有可能會導致光刻膠漂膠。足夠的光刻膠厚度：在使用方向性比較好的鍍膜方式中，鍍膜材料的厚度甚至可以大于光刻膠的厚度。因為，蒸發(fā)的材料在空隙區(qū)域上緩慢地生長在一起，從而襯底上生長的材料形成一個下面大上面小的梯形截面結(jié)構(gòu)。光刻間的照明光為黃光。

厚膠光學光刻具有工藝相對簡單、與現(xiàn)有IC工藝流程兼容性好、制作成本低等優(yōu)點，是用來制作大深度微光學、微機械、微流道結(jié)構(gòu)元件的一種很重要的方法和手段，具有廣闊的應(yīng)用前景，因而是微納加工技術(shù)研究中十分活躍的領(lǐng)域。厚膠光刻是一個多參量的動態(tài)變化過程，多種非線性畸變因素的存在，使得對其理論和實驗的研究，與薄膠相比要復(fù)雜得多。厚層光刻膠顯影后抗蝕劑浮雕輪廓不僅可以傳遞圖形，而且可以直接作為工作部件、微機械器件封裝材料等。例如SU—8光刻膠具有良好的力學特性，可直接作為微齒輪、微活塞等部件的工作材料。隨著厚膠光學光刻技術(shù)的成熟和完善，該技術(shù)不僅可以制作大深度、大深寬比臺階型微結(jié)構(gòu)元件，而且可以制作大深度連續(xù)面形微結(jié)構(gòu)元件。隨著波長縮短，EUV光刻成為前沿技術(shù)。低線寬光刻加工

光刻技術(shù)的發(fā)展依賴于光學、物理和材料科學。廣州微納加工技術(shù)

涂膠工序是圖形轉(zhuǎn)換工藝中重要的步驟。涂膠的質(zhì)量直接影響到所加工器件的缺陷密度。為了保證線寬的重復(fù)性和接下去的顯影時間，同一個樣品的膠厚均勻性和不同樣品間的膠厚一致性不應(yīng)超過±5nm(對于1.5um膠厚±0.3%)。光刻膠的目標厚度的確定主要考慮膠自身的化學特性以及所要復(fù)制圖形中線條的及間隙的微細程度。太厚膠會導致邊緣覆蓋或連通、小丘或田亙狀膠貌、使成品率下降。在MEMS中、膠厚(烤后)在0.5-2um之間，而對于特殊微結(jié)構(gòu)制造，膠厚度有時希望1cm量級。在后者，旋轉(zhuǎn)涂膠將被鑄膠或等離子體膠聚合等方法取代。常規(guī)光刻膠涂布工序的優(yōu)化需要考慮滴膠速度、滴膠量、轉(zhuǎn)速、環(huán)境溫度和濕度等，這些因素的穩(wěn)定性很重要。根據(jù)性質(zhì)的不一樣，光刻膠可以分為正膠和負膠。在工藝發(fā)展的早期，負膠一直在光刻工藝中占主導地位，隨著VLSIIC和2～5微米圖形尺寸的出現(xiàn)，負膠已不能滿足要求。隨后出現(xiàn)了正膠，但正膠的缺點是粘結(jié)能力差。廣州微納加工技術(shù)