光刻工藝就是將光學掩膜版的圖形轉(zhuǎn)移至光刻膠中。掩膜版按基板材料分為樹脂和玻璃基板，其中玻璃基板又包含石英玻璃，硅硼玻璃，蘇打玻璃等，石英玻璃硬度高，熱膨脹系數(shù)低但價格較高等主要用于高精度領(lǐng)域；按光學掩膜版的遮光材料可分為乳膠遮光模和硬質(zhì)遮光膜，硬質(zhì)遮光膜又細分為鉻，硅，硅化鉬，氧化鐵等。在半導體領(lǐng)域，鉻-石英版因其性能穩(wěn)定，耐用性，精度高等在該領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。我國的光學掩膜版制作始于20世紀60年代，當時基板主要進口日本“櫻花”玻璃及美國柯達玻璃。1978年，我國大連玻璃廠當時實現(xiàn)制版玻璃的產(chǎn)業(yè)化，成品率10%左右。80年代后期，基板主要采用平拉玻璃。到90年代，浮法玻璃技術(shù)技術(shù)較為成熟，開始使用浮法玻璃作為基板，2005年使用超白浮法玻璃作為基板。2010年以后，光掩?；迨⒉Ａч_始投產(chǎn)，其質(zhì)量能基本滿足IC產(chǎn)業(yè)光掩模版基板的高精度需求。隨著市場對大直徑硅片的需求，大尺寸玻璃基板也同時趨向于大型化，對光掩模石英玻璃基板也提出了更高的要求。光刻工藝中常見的對準技術(shù)——場像對準技術(shù)。珠海光刻

光刻機經(jīng)歷了5代產(chǎn)品發(fā)展，每次改進和創(chuàng)新都明顯提升了光刻機所能實現(xiàn)的工藝節(jié)點。為接觸式光刻機。曝光方式為掩模版與半導體基片之間靠控制真空度實現(xiàn)緊密接觸，使用光源分別為g線和i線。接觸式光刻機由于掩模與光刻膠直接接觸，所以易受污染，掩模版和基片容易受到損傷，掩模版壽命短。第二代為接近式光刻機。曝光方式為掩模版與半導體基片之間有微米級別的間隙，掩模版不容易受到損傷，掩模版壽命長，但掩模版與基片之間的間隙也導致成像質(zhì)量受到影響，分辨率下降。GaN材料刻蝕平臺目前，光刻膠原料仍大量依賴進口。

基于光刻工藝的微納加工技術(shù)主要包含以下過程：掩模（mask）制備、圖形形成及轉(zhuǎn)移（涂膠、曝光、顯影）、薄膜沉積、刻蝕、外延生長、氧化和摻雜等。在基片表面涂覆一層某種光敏介質(zhì)的薄膜（抗蝕膠），曝光系統(tǒng)把掩模板的圖形投射在（抗蝕膠）薄膜上，光（光子）的曝光過程是通過光化學作用使抗蝕膠發(fā)生光化學作用，形成微細圖形的潛像，再通過顯影過程使剩余的抗蝕膠層轉(zhuǎn)變成具有微細圖形的窗口，后續(xù)基于抗蝕膠圖案進行鍍膜、刻蝕等可進一步制作所需微納結(jié)構(gòu)或器件。

光刻機被稱作“現(xiàn)代光學工業(yè)之花”，生產(chǎn)制造全過程極為繁雜，一臺光刻機的零配件就達到10萬個。ASML光刻機也不是荷蘭以一國之力造出的，ASML公司的光刻機采用了美國光源設(shè)備及技術(shù)工藝，也選用了德國卡爾蔡司的光學鏡頭先進設(shè)備，絕大多數(shù)零部件都需用從海外進口，匯聚了全世界科技強國的科技，才可以制作出一臺光刻機。上海微電子占有著中國80%之上的市場占有率，現(xiàn)階段中國銷售市場上絕大多數(shù)智能機都采用了上海微電子的現(xiàn)代化封裝光刻機技術(shù)，而先前這種光刻機都在進口?，F(xiàn)階段，國產(chǎn)光刻機的困難關(guān)鍵在于沒法生產(chǎn)制造高精密的零配件，ASML的零配件來源于美國、德國、日本等發(fā)達國家，而現(xiàn)階段在我國還無法掌握這種技術(shù)，也很難買到。現(xiàn)階段，上海微電子能夠生產(chǎn)加工90nm的光刻機，而ASML能夠生產(chǎn)制造7nm乃至5nm的EUV光刻機，相差還是非常大。光刻技術(shù)的進步為物聯(lián)網(wǎng)和人工智能提供了硬件支持。

曝光顯影后存留在光刻膠上的圖形（被稱為當前層（currentlayer）必須與晶圓襯底上已有的圖形（被稱為參考層（referencelayer））對準。這樣才能保證器件各部分之間連接正確。對準誤差太大是導致器件短路和斷路的主要原因之一，它極大地影響器件的良率。在集成電路制造的流程中，有專門的設(shè)備通過測量晶圓上當前圖形（光刻膠圖形）與參考圖形（襯底內(nèi)圖形）之間的相對位置來確定套刻的誤差（overlay）。套刻誤差定量地描述了當前的圖形相對于參考圖形沿X和Y方向的偏差，以及這種偏差在晶圓表面的分布。與圖形線寬（CD）一樣，套刻誤差也是監(jiān)測光刻工藝好壞的一個關(guān)鍵指標。理想的情況是當前層與參考層的圖形正對準，即套刻誤差是零。為了保證設(shè)計在上下兩層的電路能可靠連接，當前層中的某一點與參考層中的對應(yīng)點之間的對準偏差必須小于圖形間距的1／3。3D光刻技術(shù)為半導體封裝開辟了新路徑。上海氮化硅材料刻蝕

在曝光這一步中，將使用特定波長的光對覆蓋襯底的光刻膠進行選擇性地照射。珠海光刻

濕法刻蝕是集成電路制造工藝采用的技術(shù)之一。雖然由于受其刻蝕的各向同性的限制，使得大部分的濕法刻蝕工藝被具有各向異性的干法刻蝕替代，但是它在尺寸較大的非關(guān)鍵層清洗中依然發(fā)揮著重要的作用。尤其是在對氧化物去除殘留與表皮剝離的刻蝕中，比干法刻蝕更為有效和經(jīng)濟。濕法刻蝕的對象主要有氧化硅、氮化硅、單晶硅或多晶硅等。濕法刻蝕氧化硅通常采用氫氟酸（HF）為主要化學載體。為了提高選擇性，工藝中采用氟化銨緩沖的稀氫氟酸。為了保持pH值穩(wěn)定，可以加入少量的強酸或其他元素。摻雜的氧化硅比純氧化硅更容易腐蝕。濕法化學剝離(WetRemoval）主要是為了去除光刻膠和硬掩模（氮化硅）。熱磷酸（H3PO4）是濕法化學剝離去除氮化硅的主要化學液，對于氧化硅有較好的選擇比。在進行這類化學剝離工藝前，需要將附在表面的氧化硅用HF酸進行預處理，以便將氮化硅均勻地消除掉。珠海光刻